天津市滨海新区科学技术局

当前位置: 首页>新闻中心

全球首颗二维—硅基混合架构闪存芯片问世
发布日期: 2025-10-10 15:41      来源: 科技日报
字号:
  • 扫一扫在手机打开当前页

    科技日报上海10月9日电 (记者王春 通讯员沈涵)大数据与人工智能时代对数据存取性能提出极致要求,而目前速度最快的存储器为易失性存储器,速度为1—30纳秒,且断电后数据会丢失。传统闪存不会轻易丢失数据,但工作效率远远落后于芯片算力。记者9日从复旦大学获悉,该校集成芯片与系统全国重点实验室、集成电路与微纳电子创新学院周鹏—刘春森团队研发出全球首颗二维—硅基混合架构闪存芯片,解决了存储速率的技术难题。相关研究成果8日发表于国际学术期刊《自然》。

      这是复旦大学继“破晓(PoX)”皮秒闪存器件问世后,在二维电子器件工程化道路上的又一次里程碑式突破。今年4月,周鹏—刘春森团队于《自然》发表论文称,他们提出的“破晓”二维闪存原型器件实现了400皮秒超高速非易失存储,这是迄今最快的半导体电荷存储技术,为打破算力发展困境提供了底层原理支撑。研究团队认为,若要加快新技术孵化,就要将二维超快闪存器件充分融入互补金属氧化物半导体(CMOS)传统半导体生产线。

      然而,CMOS电路表面有众多元件,如同一个微缩“城市”,既有高楼也有平地;而二维半导体材料厚度仅1到3个原子,如“蝉翼”般纤薄脆弱,若直接将其铺在CMOS电路上,材料很容易破裂。如何将二维材料与CMOS电路集成且不破坏其性能,是团队需要攻克的核心难题。

      “我们没必要去改变CMOS,而需要去适应它。”复旦大学集成电路与微纳电子创新学院副院长周鹏介绍,团队从具有一定柔性特点的二维材料入手,通过模块化集成方案,先将二维存储电路与成熟CMOS电路分离制造,再通过微米尺度的高密度单片互连技术实现完整集成,使芯片集成良率超过94%。

      这一成果将二维超快闪存与成熟CMOS工艺深度融合,攻克了二维信息器件工程化的关键难题,率先实现全球首颗二维—硅基混合架构闪存芯片的研发。产业界相关人士认为,这种芯片可突破闪存本身在速度、功耗、集成度上的平衡限制,未来或可在3D应用层面带来更大市场机会。

      研究团队表示,下一步计划创办实验基地,与相关机构合作,建立自主主导的工程化项目,用3—5年时间将项目集成到兆量级水平。


    checktaskdate=&unchecktaskdate=&titleformatstring=False_False_False_&thirdtitle=&Check_IsAdmin=True&Check_UserName=kjjadmin&Check_CheckDate=2025/10/10 15:41:52&Check_Reasons=
    全国各省市政府网站
    天津市各区政府网站
    滨海新区政府系统网站
    重点链接